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High-Performance In-Memory Bayesian Inference with Multi-Bit Ferroelectric FET

Chao Li, Xuchu Huang, Zhicheng Xu,Bo Wen, Ruibin Mao, Min Zhou, Thomas Kampfe,Kai Ni,Can Li,Xunzhao Yin,Cheng Zhuo

IEEE Transactions on Computers（2025）

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关键词
Bayesian inference,ferroelectric FET,feature selection,in-memory computing
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样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
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