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Total Ionizing Dose Radiation Effect of HfO2/TaOx-based Resistive Random-Access Memories

Xinpei Duan, Yahui Qing,Yong Wang,Ruohao Hong, Jiawei Chen, Pei Yang, Yanan Yin,Xinjie Zhou,Xingqiang Liu,Bei Jiang

MICROELECTRONICS RELIABILITY（2025）

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关键词
Total ionizing dose,Radiation effect,Resistive random access memory
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