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Defect Detection and Size Classification in CdTe Samples in 3D

M. Vaananen,M. Kalliokoski,R. Turpeinen,M. Bezak,P. Luukka,A. Karjalainen,A. Karadzhinova-Ferrer

JOURNAL OF INSTRUMENTATION（2024）

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关键词
Detection of defects,Gamma detectors,Materials for solid-state detectors,X-ray detectors
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