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Exceptional Point Enhanced Nanoparticle Detection in Deformed Reuleaux-triangle Microcavity

Jinhao Fei,Xiaobei Zhang,Qi Zhang,Yong Yang,Zijie Wang,Chuanlu Deng,Yi Huang,Tingyun Wang

Frontiers of Optoelectronics（2024）

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关键词

Exceptional point,Deformed microcavity,Nanoparticle detection,Far-field pattern

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