谷歌浏览器插件

订阅小程序

在清言上使用

立即登录

学术主页个人账号

我的关注论文收藏浏览历史

A Methodology to Address RF Aging of 40nm CMOS PA Cells under 5G Mmw Modulation Profiles

A. Divay,C. Dehos,I. Charlet,F. Gaillard,B. Duriez,X. Garros,J. Antonijevic,J. Hai,N. Revil,J. Forest,V. Knopik,F. Cacho,D. Roy,X. Federspiel,S. Cremer,P. Chevalier

2024 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, IRPS 2024（2024）

引用 0|浏览7

关键词

RF reliability,mmWave,5G-FR2 modulation

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要