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Impact of B4C Buffer Layer on Interface Diffusion in Cr/Sc Multilayers: Combined Study by X-ray Reflectivity, Scattering and Fluorescence

P. Sarkar,A. Biswas,Sanjay Rai,M. H. Modi,Gurupada Ghorai,Pratap K. Sahoo,S. N. Jha,D. Bhattacharyya

Physica Scripta（2024）

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关键词
interface,multilayer thin film,soft x-ray reflectivity,barrier layer,GIXRF
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