Solutions to Complex Material-related Questions via Advanced Material Characterization Techniques

Thomas Klünsner,Gerald Ressel,Paul Angerer,Dominik Brandl, Nicolas Bauer, Barbara Kosednar-Legenstein,Bernhard Sartory, Thomas Hönigmann,Thomas Pogrielz,Jozef Keckes

BHM Berg- und Hüttenmännische Monatshefte（2024）

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关键词

Short range order,X‑ray diffraction (XRD),Electron backscatter diffraction (EBSD),High-temperature,Material characterization,Kurzreichweitenordnung,Röntgenbeugung (XRD),Elektronenrückstreubeugung (EBSD),Hochtemperatur,Materialcharakterisierung

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