Новые подходы к калибровке дифрактометра. Изучение InSb в интервале 90-490 К

Предложены новые методики калибровки монокристальных дифрактометров, оснащенных 2D-детектором для повышения точности измерения параметров элементарной ячейки. В основе методики лежит обработка профилей дифракционных рефлексов по оригинальной программе SearchXY-2q и уточнение положения детектора путем съемки внешнего эталона. Обсуждаются особенности калибровки дифрактометров, оснащенных трех- или четырехкружным гониометрами. Использование рефлексов с 2q » 100°, при уточнении параметров элементарной ячейки тестового монокристалла InSb позволило провести измерения параметра элементарной кубической ячейки а с относительной погрешностью 7´10-5. Возможности методик также проиллюстрированы результатами измерения зависимостей а(Т) InSb в интервале 90-490 К.