Mối tương quan giữa đường kính bao dây thần kinh thị sau nhãn cầu trên siêu âm với các giá trị áp lực nội sọ đo được bằng các biện pháp xâm lấn

Tăng áp lực nội sọ là một biến chứng nặng ở những bệnh nhân đột quị, cần có những biện pháp chẩn đoán nhanh chóng chính xác, kịp thời để xử trí cấp cứu. Những biện pháp đánh giá áp lực nội sọ không xâm lấn có ưu điểm cho kết quả nhanh chóng, có thể tiến hành tại giường và làm nhiều lần. Chúng tôi tiến hành nghiên cứu áp dụng phương pháp siêu âm đo đường kính bao dây thần kinh thị sau nhãn cầu ở những bệnh nhân được theo dõi áp lực nội sọ xâm nhập (được coi là tiêu chuẩn vàng) để đánh giá mức độ chính xác của phương pháp không xâm nhập này. Kết quả: có mối tương quan giữa đường kính bao dây thần kinh thị và áp lực nội sọ với r = 0.64 (p < 0.05). Khi sử dụng điểm cut-off: 5.55 mm để chẩn đoán TALNS (ALNS ≥ 20mmHg) thì có Se và Sp tương ứng là: 96.4% và 62.3%. Kết luận: Siêu âm đo đường kính bao dây thần kinh thị là một cận lâm sàng tốt trong chẩn đoán tăng áp lực nội sọ.