谷歌浏览器插件
订阅小程序
在清言上使用
VIPCreated with Sketch.

Extended Lifetime Testing of SiC CMOS Electronics at 500°C

Emad Andarawis, Cheng-Po (Paul) Chen, Jeremy Popp,Liang Yin,David Shaddock

IMAPSource Proceedings（2023）

引用 0|浏览13
AI 理解论文
溯源树
样例
生成溯源树，研究论文发展脉络
Chat Paper
正在生成论文摘要