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Siプラットフォーム上のGeとIII-Vデバイスの低周波雑音とランダムテレグラフ雑音性能【Powered by NICT】

Cor Claeys,Agopian Paula,Alian AliRezza,Hiroaki Arimura,Fang Wen,Martino Joao, J. Mitard,Neves Felipe, Oliviera Alberto,Simoen Eddy

IEEE Conference Proceedings（2016）

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