谷歌浏览器插件

订阅小程序

在清言上使用

立即登录

学术主页个人账号

我的关注论文收藏浏览历史

1/F Noise in Fully Integrated Electrolytically Gated FinFETs with Fin Width Down to 20Nm

Koen Martens,Bert Du Bois,Yong Kong Siew,Anshul Gupta,A. Veloso,E. Dupuy,Dunja Radisic,Efrain Altamirano Sánchez,W. Van Roy,S. Severi,Eddy Simoen

International Conference on Noise and Fluctuations（2019）

引用 2|浏览0

AI 理解论文

溯源树

样例

生成溯源树，研究论文发展脉络

Chat Paper

正在生成论文摘要