ホールバリアフリーEモードLPCVD SiN_x/GaN MISFETの逆バイアス安定性と信頼性【Powered by NICT】Mengyuan Hua, Wanqin Jin,Qilong Bao,Jiabei He,Zhaofu Zhang,Zheng Zheyang,Lei Jiacheng,J Chen KevinIEEE Conference Proceedings(2017)引用 0|浏览1暂无评分关键词sin_x/gan,nict】,sin_x/ganAI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要