Комбинированный подход к калибровке монокристального дифрактометра. Изучение структуры CsLiMo3O10 в интервале 90-450 К

Предложен ряд подходов к уточнению параметров элементарных ячеек монокристаллов на серийных лабораторных дифрактометрах, оснащенных 2D-детекторами, и соответствующий математический аппарат для обработки полученных результатов. Их использование продемонстрировано на примере ромбических кристаллов LiCsMo3O10, выращенных низкоградиентным методом Чохральского при двух разных ориентациях затравок, рентгеноструктурный анализ показал их тождественность. Показано, что параметры элементарных ячеек кристаллов совпадают в пределах оцененной погрешности измерений. Проведено исследование температурного хода параметров элементарной ячейки в диапазоне температур 90-450 К, установлен вид элементов тензора теплового расширения. Обсуждены изменения структурных характеристик LiCsMo3O10 в указанном температурном диапазоне.