一种EB_SHOT特征的电子元器件点云配准算法

Machinery Design & Manufacture(2023)

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Abstract
针对机器人在抓取电子元器件中目标实时精准定位的问题,应用点云配准技术,提出了一种扩展的二进制特征描述子(EB_SHOT)的电子元器件点云配准算法.首先,对采集的电子元器件点云进行ISS关键点提取,获取点云表面均匀分布且具有显著特征的点集.其次,对关键点采用SHOT特征描述和位置空间信息相结合的方法生成E_SHOT特征描述子,并将其编码为EB_SHOT特征描述子.最后,基于FLANN特征点搜索路径进行SAC-IA和ICP相结合的点云配准方法,得到点云之间的空间坐标变换矩阵,从而获得电子元器件的位姿信息.实验结果表明,使用这里方法进行电子元器件点云配准,在配准精度和速度上均有所提高,满足机器人抓取的要求.
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