X射线能量对基于宏孔硅的X射线CsI（Tl）闪烁屏的影响

建立了基于宏孔硅的X射线CsI（Tl）闪烁屏模型，模拟分析了X射线能量对X射线CsI（Tl）闪烁屏光输出的影响。制备了周期为10μm、方孔边长为8μm的X射线闪烁屏，搭建了X射线成像装置，测量了不同X射线源管电压的X射线成像图，采用Matlab软件分析了X射线闪烁屏的光输出情况。研究结果表明，闪烁屏厚度越大，闪烁屏平均灰度值越大，与模拟结果一致。