西瓜枯萎病抗性分子标记筛选与应用

西瓜是一种重要的园艺作物，经济效益显著，但枯萎病的发生严重限制了西瓜的生产。为了解决这一难题，利用简单、方便、实用性强的分子标记技术辅助选育抗性强的西瓜品种对于西瓜产业的优质发展具有重要意义。以父本sugarlee、母本伊选、F 1 代、F 2 代及F 3 代遗传群体为材料，通过苗期接种鉴定，对父本的抗性遗传规律进行研究，发现父本sugarlee对枯萎病生理小种1的抗性遗传为单基因显性性状遗传；然后利用CAPS、InDel、SCAR、dCAPS和RAPD等多种分子标记技术，筛选了22个与西瓜枯萎病抗性基因相关的分子标记，获得了与西瓜枯萎病紧密连锁的抗性标记3个，分别为indel04、indel05、indel06,位于抗病基因的一侧，连锁距离分别为7.5、10.7、13.7 cM,将这3个分子标记对20份西瓜材料进行分子检测，结果与实验室接种鉴定的结果基本一致。结果表明，分子标记indel04、indel05、indel06可应用于西瓜材料枯萎病抗性的分子辅助选择，这对于西瓜的抗性育种具有重要意义。