基于全反射原理的 X 射线荧光分析技术及其应用研究

X 射线荧光分析技术是一种基于全反射原理的物质多元素在线及 ENCE 技术。该技术的研发极大地解决了地质品种检测复杂程度高、难度大的问题。基于全反射 X 射线荧光分析技术具备多元素同时检测、量化简单、经济效果好等优势，在环境、生物医药、食品及半导体材料生产企业获得广泛应用。本文通过对相关文献资料的梳理，对该技术应用的影响因素及在不同领域中的具体应用进行了阐述，希望能为相关企业及工作人员提供一定参考。