X射线图像非均匀性分析及校正

Mechanical & Electrical Engineering Technology(2022)

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摘要
X射线成像检测系统由X射线源、高精度成像线阵探测器、可移动样品台架,以及成像与控制系统等部分构成,各部件都会对X射线成像质量造成影响,而线阵探测器作为X射线检测系统的核心器件,对成像质量有最直接的影响.因此,分析了线阵探测器造成的X射线图像非均匀性的影响因素,常规的图像校正方算法对非均匀性X射线图像校正效果一般,对处理的结果进行对比分析,对两点校正算法进行优化,在两点校正法的基础上进行了拓展,校正过程中根据需要插入多个点,将一整段像素数据分成多个段,在每个小段上进行相应两点校正,确定了多点定标分段校正方法,增加了校正的拟合度.优化后的算法继承了两点校正法原有的优势,同时又规避了其局限性,将原始X射线图像13.38%的非均匀度降低至2.43%,整体上非均匀度降低了82%,对图像的均匀性有显著提升.
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