基于高光谱成像技术的水稻叶片稻纵卷叶螟虫害信息提取
Acta Agriculturae Shanghai（2022）
Abstract
使用成像光谱仪获取遭受稻纵卷叶螟危害的水稻叶片的高光谱影像,统计分析虫害叶片和健康叶片在光谱反射率和植被指数上的差异,建立分类判别模型,精确提取叶片上虫害区域的像元数和比例,实现对虫害严重程度的精确评估.结果表明:在波长为400—710 nm的可见光-红边波段范围内,虫害叶片的反射率普遍高于健康叶片,差异极显著(P<0.01);在近红外波段虫害叶片反射率低于健康叶片(P<0.01),但二者差异略小.虫害叶片的NDVI、RVI、RARS和SIPI 4种植被指数值明显低于健康叶片.基于RVI构建决策树分类模型能够准确区分叶片上的虫害区域和健康区域,并据此计算出虫害区域所占比例,进而对虫害严重程度进行定量化评估.
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