基于静电力显微镜针尖电场诱导的电光发色团在主客体功能复合膜中的迁移
China Plastics Industry（2022）
摘要
基于静电力显微镜(EFM)研究了针尖静电场诱导的电光发色团在聚碳酸酯(PC)功能复合膜中的迁移.在施加偏压的针尖强电场诱导下,原子力显微镜(AFM)形貌像和相位像表明客体分子逐渐从PC薄膜的本体向样品表面迁移,并形成纳米尺寸的小粒子.这一观察结果表明,外部电场可触发主客体功能复合材料中客体电光发色团的迁移,并导致复合材料微观结构和组成的不稳定,致使功能复合薄膜功能减弱,甚至失效.
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