偏光片细微外观缺陷偏振成像检测方法

针对偏光片细微外观缺陷难以成像、难以检测的问题，该文提出一种基于偏振成像的外观缺陷检测新方法。通过缺陷偏振态指标测量结果，定性描述了对比度增强机理。利用缺陷与正常区域之间透射光偏振态的显著差异，大幅提高缺陷的成像对比度，从而简化后续图像处理算法，提高检测速度和准确率。实验结果表明，偏光片外观缺陷平均检出率达到97.3%，平均单个样品检测时间约为0.22 s，基本满足产业化应用要求。