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Small Size Transition-Edge Sensors for Future X-Ray Applications

Taralli E.,de Wit M.,Gottardi L.,Nagayoshi K.,Visser S.,Ridder M. L.,Akamatsu H.,Vaccaro D.,Bruijn M. P.,Gao J. R.,den Herder J-W

Journal of Low Temperature Physics（2022）

引用 4|浏览37

关键词

TES,X-IFU,Energy resolution,Proximity effect,Critical inductance

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