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フリップチップ法でパッケージしたSRAMデバイスのためのアルファ粒子誘起SEU断面積を測定するための代替的アプローチ:高エネルギーアルファ裏面照射【Powered by NICT】

Khan Saqib Ali,Lim Chulseung,Bak Geunyong,Baeg Sanghyeon,Lee Soonyoung

Microelectronics Reliability（2017）

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