p-i-n接合と横方向キャリア拡散モデルからの多孔質SiCエレクトロルミネセンス【JST・京大機械翻訳】Bawa Salman, Zhang Tingwei, Dow Liam, Peter Samuel, H Kitai AdrianJournal of Applied Physics(2021)引用 0|浏览3暂无评分AI 理解论文溯源树样例生成溯源树,研究论文发展脉络Chat Paper正在生成论文摘要