ПРОГНОЗНЫЙ АНАЛИЗ ДОМИНИРУЮЩИХ МЕХАНИЗМОВ ОТКАЗОВ, ТИПОВЫХ И ПРЕДЕЛЬНЫХ УРОВНЕЙ РАДИАЦИОННОЙ СТОЙКОСТИ ПЕРСПЕКТИВНОЙ НАНОМЕТРОВОЙ КМОП ЭКБ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ

А.Ю. Никифоров,В.А. Телец,Д.В. Бойченко,А.А. Смолин,А.В. Уланова, И.И. Швецов-Шиловский, А.В. Сагоян,В.В. Елесин

NANOINDUSTRY Russia（2020）

Cited 0|Views0

No score

Abstract

Проведен анализ основных тенденций и особенностей проявления доминирующих радиационных эффектов в ЭКБ на основе КМОП-технологий при переходе к проектным нормам 28 нм и менее. Рассматривается роль новых материалов и геометрии транзистора при переходе к технологиям FDSOI и FinFET.

Translated text

AI Read Science

Must-Reading Tree

Example

Generate MRT to find the research sequence of this paper

Chat Paper

Summary is being generated by the instructions you defined