非均整与传统均整X线射束的电离电荷复合率研究

目的 探索电离室的电离电荷符合率(pion)受各个因素的影响,对该值的测量提供参考.方法 探索"双电压"法计算pion的合理性.测量工具为三维水箱,源皮距(SSD)为100 cm,射野大小为10 cm×10 cm,6 MV、6 MV-FFF能量的测量深度为5.2 cm,10 MV、10 MV-FFF能量的测量深度为10.2 cm.在上述测量条线下,应用"双电压"法和"Jaffé-plots"方法对不同能量和不同偏压对的pion进行测量计算并评估其合理性.然后探索pion与剂量率、射束能量、电离室和静电计种类、测量深度的关系.结果 在部分偏置电压下,"双电压"法和"Jaffé-plots"方法计算的pion在每一档能量中都显示出很好的一致性(<0.1％).应用不同的电离室和静电计对于pion的影响在每一档能量中均小于0.5％.剂量率的变化与pion值无统计学相关性.pion在10 MV-FFF能量中随测量深度的变化最大,最大值超过2％.结论 根据上述结果,本研究建议在机器调试、射线质测量及质量控制操作之前,进行全面的pion测量.