B型夹层腔内修复术后远端支架诱导的新发破口的诱发因素与防治措施的研究进展

随着手术器械的不断改良和手术技术经验的不断累及,主动脉腔内修复术(thoracic endovascular aortic repair,TEVAR)由于其微创、机体损伤小、机体恢复快、术后的死率低等特点,已经成为治疗主动脉疾病的主要医治手段[1-2].尽管如此,这些支架的远期效果仍存在忧虑.对于StanfordB型主动脉夹层(stanford B aortic dissection,TBAD),无论急性期还是慢性期,TEVAR都能很好的降低患者的死亡率,但对于TEVAR术后支架的长期效果、支架内漏、支架源性新发破口等问题越来越多的被人重视[5].支架诱导的新发破口(stent graft-induced new entry tear,SINE)被定义为支架本身引起的内膜撕裂,不包括自然疾病进展或血管内医源性的损伤[2].尤其是在TBAD中,这些破口可能发生在移植物的近端或远端,当新发破口形成时,近段的SINE容易形成逆行A型夹层(retrograde type A aortic dissection,RTAD)[4];远端的SINE (dSINE)可以发展为一个明显的假腔,随后动脉瘤扩张和破裂的可能[3].自从Kato等[3]第一次报道出dSINE,国内外对TEVAR术后dSINE的有关危险因素及处理方法进行了大量的研究,甚至得出发生dSINE的病死率高达25％[2,7-8].通过回顾既往文献,对Stanford B型夹层术后dSINE发生的有关危险因素及防治措施进行综述.