基于电学特性的库尔勒香梨静压损伤程度量化研究

静压是库尔勒香梨损伤中的一个重要形式,但对库尔勒香梨静压损伤程度的量化需亟待解决.为此,以库尔勒香梨为试验材料,对不同采摘期的库尔勒香梨进行静压损伤试验,依据电学特性测量库尔勒香梨静压后的电学参数,探究不同采摘时间变形量与损伤面积的关系,构建不同成熟度下库尔勒香梨电学参数值与损伤面积的数学模型,提出了一种基于电学特性的损伤程度量化评价方法.结果表明:在同一压缩变形量下库尔勒香梨成熟度越高,电学参数变化越显著,其损伤面积也越大.库尔勒香梨的电学参数变化值可表征其损伤面积,库尔勒香梨的损伤程度可由其损伤面积来表征,且库尔勒香梨电学参数变化值与损伤面积之间关系的数学方程均符合y=ax2+bx+c模型.该模型可以实现不同成熟度下库尔勒香梨损伤程度的量化,为库尔勒香梨损伤程度的快速测量提供理论指导.