半导体功率器件的加速寿命试验研究
Quality and Reliability（2017）
Abstract
长寿命、高可靠的半导体功率器件难以采用正常应力下的长期寿命试验进行寿命评估.从阿伦尼乌斯方程出发,研究了半导体功率器件加速寿命试验的基本原理和试验方法,并采用155℃高温应力加速研究某型脉冲功率管在85℃条件下的基本失效率.试验结果与可靠性指标预计相吻合,该型功率管随后在某大型有源相控阵雷达上进行了大批量应用,实际可靠性指标进一步验证了所设计的加速寿命试验的有效性.
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