矩阵求逆应用于等离子体杂质体发射率测量的研究

对托卡马克等离子体中获得杂质局部体发射率的过程进行研究，提出了一种采用求逆矩阵的方法进行 A-bel反演，根据弦积分的杂质光亮度分布获得杂质局部体发射率。结合托卡马克装置假象的钼杂质弦积分剖面，采用该方法获得了杂质的体发射率分布。