基于概率统计的物理地址与逻辑地址映射关系提取方法

针对从单粒子翻转(SEU)实验数据中提取多单元翻转(MCU)信息时缺少物理地址与逻辑地址映射关系的问题,提出一种基于概率统计的物理地址与逻辑地址映射关系提取方法.通过逐位对比所有包含MCU信息的SEU数据的逻辑地址,统计逻辑地址间不同逻辑位的个数和位置,并分析逻辑位出现的频次,可得到物理地址和逻辑地址之间的映射关系.用重离子试验数据对该方法进行验证,结果表明,该方法能够获取MCU信息提取中最重要的地址映射信息,与逆向工程相比,能在不明显降低MCU提取精度的情况下,节省研究时间和经费.