质子单粒子效应实验束流诊断中的SEEM研制

Modern Applie Physics（2015）

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摘要

针对目前我国急需开展质子单粒子效应辐照实验的需求,研制了适用于质子束流注量率监测的次级电子发射监督器(secondary-electron emission monitor,SEEM).测试结果表明,SEEM在监测注量率为109～1010 cm-2·s-1的质子束流时,其电流与注量率间的线性相关性很好,可应用于质子单粒子效应实验束流诊断.同时,测量了不同质子能量下铝的次级电子发射系数,测量值与理论计算结果吻合较好.

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