THGEM探测器X光斑寻迹和位置分辨实验研究

Chuanfeng LIU,Xiaojuan ZHOU,Jianrong ZHOU,Liming LU,Lin ZHU,Cong HE,Yingying TAN, Hong XU,Yuguang XIE,Xiaodong WANG,Jinjie WU,Yuanbo CHEN,Zhijia SUN

Nuclear Physics Review（2018）

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摘要

介绍了一种基于THGEM的X射线光斑寻迹探测器,用于X射线单光子计量技术研究和测量,探测器有效面积200 mm×200 mm,采用128路基于ASIC和FPGA的高速读出电子学,探测器分为中间高分辨区和外围低分辨区两部分,两部分共用一套读出电子学.实验在中国计量科学研究院利用X光机产生的束线,测试光斑位置、光斑精细分布以及探测器的位置分辨.实验结果表明,探测器实现了同时对光斑寻迹和光斑的精细测量,探测器中间高分辨区x方向的位置分辨率为0.63 mm(FWHM),y方向位置分辨率为0.62mm(FWHM),探测器各项性能指标均达到了预期目标.

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关键词

THGEM detector,position resolution,spot structure,spot tracing

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