核素等时性质量测量实验中一种基于离子速度纯化次级束的方法

等时性质量谱仪(Isochronous Mass Spectrometry，IMS)是测量短寿命核素质量的有效实验装置。在IMS核素质量测量实验过程中，目标核素通过弹核碎裂反应产生，并被次级束流线分离、传输后注入到储存环内。由于远离稳定线的目标核素产额非常低，经常伴随大量杂质核素产生，这些杂质离子会加重飞行时间探测器(Time of Flight，TOF)系统的工作负担。在HIRFL-CSR利用IMS进行核素质量测量实验过程中，发展了一种进一步纯化筛选次级离子的方法，以减轻TOF系统的工作负担。基于次级离子在束流线中飞行速度的差异性，利用HIRFL-CSR踢轨磁铁(Kicker)系统，调节次级束流注入CSRe的时间，使次级离子得到进一步筛选和纯化后注入到CSRe内。在实验中，我们测试并验证了该方法的可行性，并讨论了它在纯化次级束流方面的作用。