X射线光电子光谱法研究壳聚糖吸附镉(Ⅱ)的机理
CHINESE JOURNAL OF ANALYSIS LABORATORY（2001）
Abstract
用X射线光电子光谱法测定了壳聚糖和壳聚糖-Cd2+络合物表面C、O 及N原子的结合能及组成,研究了壳聚糖与镉离子的作用机理,氮原子的化学位移表明氨基是吸附活性基团,由化学分析和XPS得到参与吸附的N/Cd值为 1.6,存在物理吸附和化学吸附,在化学吸附中两个N与一个Cd络合.
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