X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2的含量

目前通常采用焦磷酸法和X射线衍射法测定游离α-SiO2的含量，其中焦磷酸法不能消除氧化铁皮中FeO、Fe3 O4和Fe2 O3等焦磷酸难溶物质的影响，不适合用于测定氧化铁皮中的游离α-SiO2。本文建立了采用X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO2含量的方法。以α-Al2 O3作为参考物质，以α-SiO2（101）衍射峰和α-Al2O3（012）衍射峰作为测量谱峰，将α-SiO2和α-Al2O3（质量比1：1）混合均匀制备成测量K值的试样，获得K值为7.86，应用此值分析已知游离α-SiO2含量的氧化铁皮样品，游离α-SiO2含量的测定值与实际值相符。该方法的测定范围为游离α-SiO2含量≥0.50％，且方便快速，能够满足进口氧化铁皮检验监管的工作需求。