粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分
Chemical World（2020）
Abstract
采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、MnO、P2O5、TiO2的质量分数.使用国家标准物质(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件.测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差(RSD)在0.8％～4.86％之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致.
MoreAI Read Science
Must-Reading Tree
Example
Generate MRT to find the research sequence of this paper
Chat Paper
Summary is being generated by the instructions you defined