一种X射线重金属监测仪富集样品定位方法

X射线荧光(XRF)法是实现重金属连续监测的有效方法.为了实现工业环境大气重金属连续监测,样品的富集及与X射线测量位置的精确定位至关重要.提出了一种采用光电位移传感器检测富集样品滤纸位移,实现富集样品移动精确定位的方法.以单片机作为核心芯片,研制了该样品定位控制系统.最后,利用样品定位控制系统进行了一系列样品定位试验.实验结果显示利用光电位移传感器进行多次样品定位的相对标准偏差约为0.5％,进行100 mm位移精确定位的绝对误差小于0.8 mm,能够满足XRF大气重金属在线监测装置中的样品定位要求.