X 射线荧光光谱法测定高氟地质样品中氟、钙等元素

采用X射线荧光光谱法测定高氟地质样品中氟、钙等元素，对样品进行熔融制样前处理，理论α系数和经验系数法校正基体效应。应用此方法分析国家一级标准物质和代表性样品，所测元素的精密度（RSD ）均小于5％（除含量较低元素）；分析不参加回归的标准物质和人工配制的标准样品，测量结果与标准值基本一致。通过实验数据可知，该方法可以满足高氟硅酸盐样品、萤石、萤石型铀矿、磷矿石等样品的测定要求。