175℃功率MOSFET场效应管在核磁共振功放电路中的应用
Well Logging Technology（2018）
摘要
发射效率和温度性能是核磁共振功放电路的重要指标,核磁共振发射器电路结构为D类全桥功率放大电路,引起D类功放效率下降的主要因素表现为场效应管的耗散功率.耗散功率既降低了发射效率,又会引起电路系统温度的上升.理论计算出175℃环境下,在一定条件的发射功率下,通过良好散热,功率MOSFET场效应管需要承受的最大结温约为200℃.芯片专用检测平台可以检测出功率场效应管的漏源击穿电压、漏极电流、栅源阈值电压、导通电阻等各参数随温度变化趋势.从大量芯片高温检测结果来看,功率MOSFET场效应管APT14M100B在200℃时的失效率约8％,经过筛选后的芯片用在电子线路上再次进行高温测试,测试结果表明,该场效应管能满足核磁共振发射器在井下1 75℃环境下有效稳定地工作.
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