一株广泛耐药恶臭假单胞菌耐药机制研究

目的 研究一株临床分离广泛耐药恶臭假单胞菌(extensively drug resistant Pseudomonas putida,XDR-PP)的耐药机制,以期指导临床合理使用抗菌药物.方法 采用VITEK-2 compact全自动微生物分析系统对菌株进行鉴定及药敏试验;改良Hodge试验初筛碳青霉烯酶;EDTA-亚胺培南协同试验和亚胺培南双纸片增效法初筛金属酶;PCR检测16S rRNA甲基化酶基因、金属β-内酰胺酶基因及可移动性遗传元件基因,产物测序,结果经BLAST软件比对分析.结果 该菌株对所检测的抗菌药物均耐药.改良Hodge试验、EDTA-亚胺培南协同试验和亚胺培南双纸片增效法结果均为阳性.基因检测结果显示,金属β-内酰胺酶基因阳性的有blavIM-2和blaIMP-4两种基因,16S rRNA甲基化酶基因阳性的有armA基因,13种可移动性遗传元件中,intI、tnpU和merA基因阳性,其余均为阴性.结论 blavIM2、blaIMP-4、armA、intI、tnpU以及merA基因是导致其广泛耐药的重要机制.恶臭假单胞菌中同时检出blavIM-2和blaIMP-4两种金属β内酰胺酶基因及armA基因为国内首次报道.