上颌后牙颊侧种植体支抗植入区CBCT的综合评价

目的 以锥束计算机体层摄影术(cone-beam computed tomography,CBCT)评估上颌后牙颊侧种植体支抗植入区的解剖特点,为临床种植钉的成功植入提供参考.方法 成人和儿童各21名进行CBCT扫描,选取距上颌第一磨牙远中颊侧釉牙骨质界(Cemento Enamel Junction,CEJ)4 mm和7 mm两个截面作为参考平面,对上颌左右侧5～6根间和6～7根间的皮质骨厚度和密度、松质骨密度、根间最短距离和皮质骨距根间最窄处距离进行测定并进行配对t检验.结果 随着年龄增长,上颌第一磨牙颊侧从近中向远中皮质骨厚度和骨密度均增大(P＜0.05);皮质骨距根间最窄处距离平均值大于5 mm.结论 选择上颌第一磨牙远中为植入点,采用直径1.3 ～2.0 mm,螺纹长度6 mm的种植钉,以与骨面成30°的小角度植入,可使种植钉植入更为安全稳定,但儿童谨慎使用种植钉.