MRI观察极高海拔攀登者大脑皮质结构改变

目的 采用MRI观察短暂极高海拔探险所致大脑皮质结构改变.方法 对28名健康青年在极高海拔登山前、后及1个月后随访进行常规T2W及全脑高分辨率三维T1W结构成像扫描,观察显著改变的脑区面积及其厚度,并应用Freesurfer软件进行统计学分析.结果 登山前、后及1个月T2WI均未发现异常;左、右侧大脑半球皮层总萎缩面积(平均萎缩率)分别为(3795.14±35.23)mm2[(9.33±3.19)％]和(2175.42±26.15)mm2[(6.49±2.76)％];左侧舌回皮层萎缩率与进入极高海拔持续时间呈弱相关,其余脑区则呈显著相关.结论 攀登极高海拔可引起大脑皮质萎缩,以优势半球明显,主要见于前额叶.