幼鼠不同程度脱髓鞘后惊厥易患性变化

目的 探索幼年SD大鼠不同程度脱髓鞘对惊厥易患性的影响.方法 选用21d幼鼠181只,按随机数字表法分为对照组和实验组,对照组给予正常饲料喂养2周(n=41)及4周(n=45),实验组给予含0.6％铜宗的饲料分别喂养2周(n=48)及4周(n=47)制备脱髓鞘模型.通过免疫组织化学及蛋白质印迹检测髓鞘碱性蛋白(MBP)含量,对脱髓鞘模型进行鉴定；利用匹罗卡品诱导大鼠惊厥发作,记录其出现惊厥的时间；膜片钳记录自无镁人工脑脊液(ACSF)诱导后海马脑片自发放电的潜伏期；利用视频-脑电图检测大鼠行为及其脑电图的改变；采用原位末端标记法(TUNEL法)观察海马神经元凋亡情况.结果 免疫组织化学及蛋白质印迹检测结果显示,铜宗可导致海马及其胼胝体内髓鞘脱失,且铜宗4周组大鼠髓鞘脱失程度明显重于铜宗2周组.铜宗4周组大鼠经匹罗卡品诱发惊厥的潜伏期[(13.33 ±3.46) min]较其同龄对照组[(19.66 ±4.33) min]明显缩短(t =4.62,P＜0.01)；膜片钳测定结果发现,铜宗2周组大鼠自发放电潜伏期[(35.00±5.03) min]与同龄对照组[(49.86±10.65) min]相比明显缩短,差异有统计学意义(t=3.34,P＜0.05)；铜宗4周组与其同龄对照组相比,大鼠自发放电的潜伏期(min)亦明显缩短[19.29 ±3.95与51.86±10.79,t=7.50,P＜0.01],且较铜宗2周组缩短更为明显(t=6.50,P＜0.01)；通过视频及脑电图联合检测发现,7/11的铜宗2周组大鼠脑电图出现了癫痫样放电,铜宗4周组出现异常脑电图阳性率达10/10,同龄对照组脑电图均无异常；铜宗2周及4周组海马神经元TUNEL阳性细胞数与对照组相比,差异均无统计学意义.结论 幼年大鼠脱髓鞘后,惊厥易患性明显增加,且脱髓鞘程度越重,惊厥潜伏期缩短更为明显,提示髓鞘的病变有可能是导致癫痫发生的可能机制之一.