238Pu低能光子源衰变γ能谱识别

Journal of Isotopes(2017)

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摘要
利用同轴P型高纯锗探测器,对X荧光分析的238 Pu低能光子源进行γ能谱分析,并对233 Pa、224 Ra、212 Pb、212 Bi及208 T l的特征γ射线进行分析,确定上述核素的来源.其中,233 Pa是生产238 Pu的原料237 N p的衰变产物,224 Ra、212 Pb、212 Bi及208 T l均为生产238 Pu的副产物236 Pu的衰变子核.能量为350、440、844、1014、1130、1266、1368、1454 keV的γ射线是α粒子轰击源封装材料引起原子核库伦激发或γ射线照射周边环境引起核激发产生.进行效率刻度后,使用γ能谱法计算各放射性核素的活度,并根据放射性平衡计算各放射性核素的质量.通过对238 Pu源γ能谱的分析,建立计算放射性同位素活度与质量的方法.
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关键词
238pu low energy photon source characteristic ray gamma ray spectrometry efficiency calibration
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