局部使用地塞米松浸润对腮腺术后面瘫发生率的影响

目的 探讨腮腺手术中局部使用地塞米松对术后面瘫发生率的影响. 方法 将91例行腮腺切除的患者按年龄、性别、肿瘤大小、肿瘤位置以及拟进行的手术方式分为研究组及对照组,其中研究组47例,对照组44例.研究组在腮腺组织切除后行地塞米松于面神经表面浸润,对照组不做特殊处理.记录并观察两组患者术后面瘫发生情况,并结合相关文献进行术后面瘫分级. 结果 术后总的面瘫发生率研究组17.39%,对照组38.10%,研究组明显低于对照组(P<0.05);其中行功能性腮腺浅叶部分切除术后面瘫发生率在两组中均为0;行腮腺浅叶及肿物切除术后面瘫发生率研究组2.56%,对照组27.78%,研究组明显优于对照组.行腮腺全切术后面瘫发生率两组均为100%.研究组有5例患者术后发生腮腺漏,对照组无发生,研究组明显高于对照组(P<0.05). 结论 采用地塞米松局部浸润可明显降低良性腮腺肿瘤术后面瘫的发生率,值得临床进一步推广,但其同时可增加术后腮腺漏的风险.