心脏植入电子装置感染的相关危险因素分析

目的:确定心脏植入电子装置(cardiovascular implantable electronic device,CIED)感染的发生率,分析感染的相关危险因素.方法:回顾性统计分析2000年1月-2012年12月13年间,本心脏中心植入起搏器和除颤仪出现的CIED感染病例.分析研究这些病例的临床表现和基础疾病特征,评估感染的相关危险因素.结果:共植入CIED[永久起搏器,心脏再同步治疗(CRT)和埋藏式心脏转复除颤仪(ICD)]1 817例(男∶女=1.4∶1),其中16例(男∶女=3∶1)发生CIED感染,发生率为0.9％.15例(占93.8％)确定为起搏器囊袋感染.68.8％检测到细菌,90.9％为凝固酶阴性葡萄球菌.显著相关的危险因素是植入ICD/CRT-D(P=0.000)、合并糖尿病(P=0.009)和合并甲状腺功能低下(P=0.000),其发生CIED感染的相对危险度(OR)分别为9.12、4.18和37.55.而起搏器更换未增加发生CIED感染的风险(P＞0.05).男性CIED感染者的体质量指数,尤其是非糖尿病男性CIED感染者,显著低于非CIED感染男性(P＜0.05).结论:本中心CIED感染率为0.9％,绝大多数表现为囊袋感染,以凝固酶阴性葡萄球菌感染为主.植入ICD/CRT-D、合并糖尿病和合并甲状腺功能低下是CIED感染的相关危险因素;低体质量指数男性容易发生CIED感染.