氧化应激诱导髓核细胞凋亡中细胞内活性氧及线粒体膜电位的变化

目的:研究氧化应激诱导的髓核细胞凋亡中细胞内活性氧(ROS)及线粒体膜电位的变化.方法:原代培养大鼠髓核细胞,以不同浓度过氧化氢(H2O2)作用于髓核细胞制造氧化应激模型,CCK8法检测H2O2诱导髓核细胞损伤过程中的细胞存活率,Annexin V/PI流式细胞术检测细胞凋亡率,DCFH-DA荧光定量法检测ROS含量、JC-1染色检测线粒体膜电位.结果:CCK8法检测H2O2能够降低髓核细胞生存率并呈剂量相关性,流式细胞术检测发现随着H2O2浓度的升高细胞凋亡比例增多,细胞内ROS增加,线粒体膜电位下降.结论:ROS介导的线粒体膜电位下降参与氧化应激诱导的髓核细胞凋亡,ROS有望成为延缓椎间盘退变的治疗靶点.