口腔显微镜下峡部加深在探查和疏通下颌磨牙近中中央根管的临床研究

目的：研究使用显微镜下峡部加深方法能否提高下颌磨牙近中中央根管的发现率；同时分析量化峡部加深的深度，为临床操作提供依据。方法本研究采集患者80例，下颌磨牙90颗作为研究对象。髓腔预备常规肉眼探查后，在显微超声技术辅助下，加深下颌磨牙近中根峡部，探查记录下颌磨牙近中中央根管的数目及其根管走形特征；同时记录峡部加深的深度。结果90个下颌磨牙中发现近中中央根管22个（24．4％）。在髓腔预备常规肉眼探查后6个（6．7％）近中中央根管被发现。显微镜下峡部加深预备下颌磨牙近中根后发现近中中央根管16个（17．7％），差异有统计学意义（ P ＜0．01）。近中根峡部加深的深度平均值在下颌第一磨牙为（1．3±0．6）mm，第二磨牙（0．8±0．7）mm。结论显微镜下峡部加深能够提高临床医生探查和疏通下颌磨牙近中中央根管的能力，峡部预备深度控制在2 mm安全可靠。